电磁热多参量测量系统
光学浮区单晶炉
红外反射谱仪
     
薄膜Jc分布测量仪
网络分析仪
透射电子显微镜
     
超导量子干涉仪
转靶X光衍射仪
振动样品磁强计
   
脉冲激光溅射沉积系统
磁控溅射镀膜设备
交流磁强计
     
大型设备列表
设 备 名 称
型 号
厂家
工 作 特 色
电磁热多参量测量系统
Mablab-12
英国
Oxford
测量电阻,I-V曲线, 交直流磁化,霍尔效应,比热,热导和微型磁扭矩等
光学浮区单晶炉
10000-H
日本
CSI
超导和氧化物单晶的生长
红外反射谱仪
DA8
ABB-BOMEM
远红外光谱测量
薄膜Jc分布测量仪  
德国THEVA
薄膜Jc分布测量
网络分析仪
8510C
Agilent Technologies
测量45MHz到24.5GHz微波二端网络参数
超导量子干涉仪
SQUID
MPMS-5
美国
弱磁弱电信号检测
转靶X光衍射仪
M18AHF
日本
Mac Science
超导块材、薄膜、多晶结构分析
透射电子显微镜
H-9000NA
日本日立公司
超导材料微结构研究
振动样品磁强计
VSM3001
英国牛津
微弱电磁信号测量
交流磁强计
Model 7000VC
美国Lakeshore
弱磁弱电信号检测
多功能溅射镀膜机
Z550
德国
镀膜
脉冲激光溅射沉积系统
PLD
自制
薄膜制备
低温扫描隧道显微镜
HV-LT-STM-01
自制
超导体、半导体、有机导体和低维系统的原子分辨
准分子激光器
LPX305iF
德国
Lambda Physik
紫外光辐照,表面处理,激光加工、刻蚀、镀膜
离子束刻蚀机
LKJ-IC
中国
刻蚀各种材料
动态讯号分析仪
HP35665A
美国
动态传输特性测量
原子力显微镜
Autoprobe CP
美国PARK
室温STM、AMF、MFM研究
LCR测量仪
HP4284A
日本HP
测量样品电容、电感、电阻信号
热重分析仪
TGA21000C
英国
测量样品的重量随温度或时间的变化关系
恒电流/恒电位仪
263A型
美国E&G
电化学氧化与还原
精密离子薄化仪
691型
美国Gatan
超导体、器件、薄膜截面结构研究
双倾向倾转低温台
613/636DH
美国Gatan
各种材料低温区域结构特性研究