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UltimaIV 3 kW X射线块材衍射仪

专业粉末衍射分析设备，适用于各种材料的物相与结构分析

UltimaIV 3kW X射线衍射仪

系统概述

UltimaIV 3 kW X射线衍射仪是一款高性能粉末衍射分析设备，采用3kW高功率X射线源和高精度测角仪，配备闪烁计数器和一维高速探测器，可对各类粉末样品进行全面的物相与结构分析，特别适用于材料科学、化学、地质等领域的研究与质量检测。

主要应用功能

粉末物相分析	粉末样品物相组成鉴定与定性分析
晶粒大小判断	基于Scherrer公式计算晶粒尺寸与分布
定量分析	混合物中各相含量的定量测定
晶胞参数精确确定	精确计算晶格常数与晶胞体积
结晶度分析	材料结晶度与非晶含量的测定
Rietveld精修	基于全谱拟合的晶体结构精修

详细技术参数

X射线源参数

最大输出功率	3 kW
管电压范围	20-60 kV
管电流范围	2-60 mA

测角仪系统

测角仪半径

285 mm

探测器系统

探测器类型

闪烁计数器，一维高速探测器

附件系统

微区微量测量附件

点光源尺寸：ϕ=0.4 mm

技术特点与优势

高功率X射线源：3kW输出功率，提供高强度衍射信号，缩短测量时间
高精度测角仪：285mm半径测角仪，角度分辨率高，重复性好
高速探测器：闪烁计数器与一维高速探测器组合，数据采集速度快
微区测量能力：配备ϕ=0.4mm点光源，支持微小样品区域分析
宽参数范围：管电压20-60kV，管电流2-60mA，适应不同材料分析需求
精确控制：高精度马达驱动，角度步进最小可达0.0001°
稳定性好：稳定的X射线输出，确保测量数据的重复性与准确性
操作简便：直观的用户界面，简化实验设置与数据处理流程

数据分析能力

支持Rietveld精修、晶胞参数计算、物相检索、晶粒尺寸分析、结晶度测定等全面的粉末衍射数据分析

硬件配置摘要

X射线源	3 kW高频发生器，Cu靶（可选配其他靶材）
测角仪	垂直θ-θ测角仪，半径285mm
探测器	闪烁计数器+一维高速探测器
样品台	标准样品台+微区样品台
单色器	石墨单色器（接收侧）
狭缝系统	发散狭缝、散射狭缝、接收狭缝可调

适用研究领域

材料科学、化学化工、地质矿物、药物分析、催化剂研究、陶瓷材料、金属材料、纳米材料、建筑材料等领域的粉末样品分析

典型分析样品

金属粉末、陶瓷粉末、矿物样品、化学试剂、催化剂、药物原料、高分子材料、纳米粉体、水泥、土壤、考古样品等各类粉末或微晶样品。

UltimaIV 3 kW X射线衍射仪技术规格信息 | 粉末衍射分析专业设备

制造商：Rigaku Corporation | 注：技术参数如有变更，恕不另行通知