仪器设备
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课题组主要仪器
SC8 -综合物性测量装置
功能
综合物性测量装置主要用于:
低温、强磁场环境下的物性测量,如铁电、介电、光或微波辐照下电输运、电场诱导下磁测量和磁电耦合等测量。
指标
磁场范围: 所含超导磁体最大场 ±9T 磁场分辨率: 0.02 mT to 1 T 0.2 mT to 9 T 磁场稳定性: 1PPM/hour 变场速率: 10-200 Oe/s 剩磁: < 5 Oe(9T以振荡模式降场) 磁体操作模式: 闭环模式和驱动模式 磁场逼近模式: 振荡模式 非过冲模式 线性模式 扫描模式 样品室温控范围: 1.9K - 400K连续控制 温度扫描速率:0.01 - 8 K/min 温度稳定性: ±0.2% T < 10K ±0.02% T > 10K