SC8 -综合物性测量装置

 

            

功能

            
            

综合物性测量装置主要用于:

低温、强磁场环境下的物性测量,如铁电、介电、光或微波辐照下电输运、电场诱导下磁测量和磁电耦合等测量。

            
            

指标

            
            

磁场范围:   所含超导磁体最大场 ±9T
磁场分辨率:  0.02 mT to 1 T
                    0.2 mT to 9 T
磁场稳定性:  1PPM/hour
变场速率:   10-200 Oe/s
剩磁:    < 5 Oe(9T以振荡模式降场)
磁体操作模式:  闭环模式和驱动模式
磁场逼近模式:  振荡模式 非过冲模式 线性模式 扫描模式
样品室温控范围:   1.9K - 400K连续控制 
温度扫描速率:0.01 - 8 K/min
温度稳定性:  ±0.2%   T < 10K
                   ±0.02%  T > 10K